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EDAX Orbis 微束X射线荧光能谱仪(Micro XRF)
Orbis可以对各种类型、尺寸的样品进行先进的无损元素分析，不需样品制备，不需涂层。它可以对多元素进行快速同步的X射线检测，含量灵敏度从百万分之几到100%。用户可以对小样品进行元素分析，如颗粒，碎片和夹杂物，也可以对大样品进行自动多点和成像分析。
Orbis是一款台式仪器，可以在空气或低真空条件下，测量从Na到BK的元素。因为X射线具有穿透力和较大的光斑，Orbis比扫描电子显微镜更适合分析较大特点的样品。Orbis Vision 软件强大易用，可提供精确的元素分析。
创新的X射线光学/视频器件几何设计
Orbis安装了垂直于样品的先进的X射线光学器件和高质量的视频像机，适合更大范围的样品形状。这种创新的设计提供了真正的“你所看到的就是你所分析的”的能力。由于X射线束的阻挡而导致的错误测量，可以很容易地被检测到。如果相机的视野受到阻挡，X射线也会受到阻挡。当测量有地形的样品时，可以消除X射线束的阴影。此外，在仪器设计的工作距离外，定性分析更容易。
Orbis微束X射线荧光能谱仪灵活易用，为所有的微束荧光能谱应用提供卓越的性能
Orbis采用视频与X射线同轴的设计，提供2mm至30μm的光斑尺寸，可方便地分析各种样品，不仅可以分析颗粒和碎片等小样品，而且可以分析表面粗糙的大块样品，具有XRF分析的所有优点和便利性；
Orbis配有专利的自动塔轮，通过塔轮将视频和X射线光学器件集成在一起，允许同轴的样品观察和XRF分析。这种几何设计提高了样品定位精度，消除了光束遮挡和阴影。光学塔轮上还可以增加两个X-射线准直器以分析较大的样品区域。另外，Orbis提供多种可选的X射线光学器件，可以在入射束上使用滤波片，提供了真正的微区XRF分析能力。Orbis增加了工作距离，可以分析粗糙的样品，并且不损失信号强度。
● 大气或真空条件下，针对无机元素的无损检测；
● 无需样品制备——样品无需镀膜；
● 相比SEM/EDS ,对重元素有更高的灵敏度；
● 多个光斑尺寸可选，最小可到30微米；
● 视频与X射线同轴设计，消除了光束遮挡和阴影；
● 大面积SDD探测器，进一步提高灵敏度；
● 样品观察窗快速观察样品位置。
Orbis采用视频与X射线同轴的设计，提供2mm至30μm的光斑尺寸，可方便地分析各种样品，不仅可以分析颗粒和碎片等小样品，而且可以分析表面粗糙的大块样品，具有XRF分析的所有优点和便利性；
Orbis配有专利的自动塔轮，通过塔轮将视频和X射线光学器件集成在一起，允许同轴的样品观察和XRF分析。这种几何设计提高了样品定位精度，消除了光束遮挡和阴影。光学塔轮上还可以增加两个X-射线准直器以分析较大的样品区域。另外，Orbis提供多种可选的X射线光学器件，可以在入射束上使用滤波片，提供了真正的微区XRF分析能力。Orbis增加了工作距离，可以分析粗糙的样品，并且不损失信号强度。
● 大气或真空条件下，针对无机元素的无损检测；
● 无需样品制备——样品无需镀膜；
● 相比SEM/EDS ,对重元素有更高的灵敏度；
● 多个光斑尺寸可选，最小可到30微米；
● 视频与X射线同轴设计，消除了光束遮挡和阴影；
● 大面积SDD探测器，进一步提高灵敏度；
● 样品观察窗快速观察样品位置。
● 刑事司法——碎片、枪击残留物（GSR）、墨水、燃料和痕量物质；
● 工业质量控制和失效分析——金属磨损碎屑、污染物鉴定、腐蚀分析、材料鉴定、药品和包装物；
● 无损检测——博物馆文物、纸质文件、钞票和宝石鉴定；
● 材料——金属、玻璃、陶瓷、水泥、混泥土和催化剂；
● 电子设备——ROSH、涂层厚度与成分和焊点；
● 地质样品
● 工业质量控制和失效分析——金属磨损碎屑、污染物鉴定、腐蚀分析、材料鉴定、药品和包装物；
● 无损检测——博物馆文物、纸质文件、钞票和宝石鉴定；
● 材料——金属、玻璃、陶瓷、水泥、混泥土和催化剂；
● 电子设备——ROSH、涂层厚度与成分和焊点；
● 地质样品
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