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高效工作流程：
易于校准、快速重定位
首先，在光学显微镜下校准样品夹；然后再定义您想要在扫描电子显微镜下检测的感兴趣区域。样品位置与样品图像被一同保存。
再将样品转移至扫描电子显微镜，重新加载包含感兴趣区域的图像。只需单击图像中标记的位置，扫描电镜能在几秒内移至相应的位置，甚至开始计算图像的放大倍数。
一站式仪器供应商：
作为全球一家提供光学和电子显微镜的制造商，蔡司是为您连接微米和纳米世界的满意之选。蔡司是光学显微镜、电子显微镜及两者综合系统的一站式供应商。
实际案例：
使用光学显微镜检测到颗粒后，您可以借助蔡司关联显微镜颗粒度分析自动完成颗粒的重定位和 EDX 元素分析。它是完整表征残留颗粒的理想方法。
关联 Particle Analyzer 将光学显微镜与电子显微镜两者的分析数据相结合，以报告的形式自动记录光学显微镜和电子显微镜两者的分析结果。
图一为金属颗粒的光学显微镜图像
图二为相同金属颗粒的电子显微镜图像
图三为含EDX分析的光镜-电镜叠加图像
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图一为金属颗粒的光学显微镜图像
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