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蔡司与A.S.&Co.公司联合开发的光谱仪，其理念是开放和灵活。将蔡司世界顶级品质光栅与CCD传感器或光电二极管阵列整合到光谱仪中，A.S.&Co.公司使用标准研究显微镜和常规支架并修改其光学部件，以扩展其光谱范围从170 nm到2200 nm。并可根据要求组装或升级成为具有各种功能的显微分光光度计工作平台。
德国A.S.&Co.分光光度计搭载蔡司立体显微镜，可以在高放大倍数下对样品微观局部做光谱分析，实现精细化，差异化操作。
通过从可见光到近红外光谱的快速扫描，得到各个波长下光谱图，最小分辨率可达0.8nm。这种优势往往体现在相似物的鉴别上，普通的分光光度计的分辨率往往无法体现出差异。
● 适用于工作距离较长且需要获取微小部分光谱的样品；
● 放大倍数在1~200x可调，可以覆盖整个显微镜的放大范围；
● 光纤耦合器的布局使得显微镜与传感器分离，避免聚焦错位。
分光光度计可分为2种：
Cooled CCD阵列、外部控制器
高灵敏度、低噪音，稳定的电子和光学性能，适用于暗场、荧光等苛刻光照条件。
CGS紧凑型CCD阵列，内置光谱控制器
操作简单、经济的价格，适用于具有足够光强度样品检测，标准明场。
德国A.S.&Co.分光光度计搭载蔡司立体显微镜，可以在高放大倍数下对样品微观局部做光谱分析，实现精细化，差异化操作。
通过从可见光到近红外光谱的快速扫描，得到各个波长下光谱图，最小分辨率可达0.8nm。这种优势往往体现在相似物的鉴别上，普通的分光光度计的分辨率往往无法体现出差异。
● 适用于工作距离较长且需要获取微小部分光谱的样品；
● 放大倍数在1~200x可调，可以覆盖整个显微镜的放大范围；
● 光纤耦合器的布局使得显微镜与传感器分离，避免聚焦错位。
分光光度计可分为2种：
Cooled CCD阵列、外部控制器
高灵敏度、低噪音，稳定的电子和光学性能，适用于暗场、荧光等苛刻光照条件。
CGS紧凑型CCD阵列，内置光谱控制器
操作简单、经济的价格，适用于具有足够光强度样品检测，标准明场。
结合立体，非破坏性方式直接进行的光谱分析可以扩展到结构和单个颗粒，直到亚微米范围。 它能提供有关真实颜色及其在材料中的分布的信息，也能分析半透明涂层的层厚度并确定胶体基质中的粒度和分布。特殊设计的A.S. & Co.模块和客户特定工程提供高度复杂的解决方案，将技术应用的可能性推向极限。
6支黑色笔的光谱图
5支蓝色笔的光谱图
材料科学
生物和医学
显微镜光谱法用于油漆和涂料的质量控制，因为颜料或相邻颜色表面区域的最小不均匀性可以区分。右图示例显示的总放大倍数为2500 x，超过了阿贝法则的光学显微镜的典型光学分辨率。 然而，各种颜色可以通过光谱分辨和分配。 甚至可以在自动化过程中使用点聚焦成像来分析这些颜色梯度和变化。
准确测量记录该微区域的光谱特征
在NIR范围内记录的半透明类金刚石碳（DLC）层的干涉图案
使用数学算法（由W.Theiss Hard- and Software开发）计算层厚度
微结构和微表面上识别极小的色差，应用方向：
- 文件色彩的鉴别
- 纸张底色的鉴别
- 打印文件油墨的色彩分析
- 水性笔或者油性笔成份区分
- 古董、油画的鉴别
- 钱币的真伪鉴定
- 老化过程（书写时间）研究
- 聚合物或者薄膜的鉴定
- 微量物证的鉴定
- 纤维化合物的组成分析
- 纤维，油漆，纸张，表面和木材的颜色测量
不同纤维的光谱图
6支黑色笔的光谱图
5支蓝色笔的光谱图
材料科学
- 洗涤剂和其它油性物质的反应过程监测
- 衣物染料的色彩研究
- 纺织品纤维的色彩分析
- 古代颜料及色彩分析和重建
- 胶体和颜料的详细反射模式评估
- 液晶显示器各单元色彩分析
- 半导体工业质量控制
- 发色物质和颜料的组成
- 聚合物或者薄膜的鉴定
- 抗反射涂料的研究
- 光诱导染料和颜料损害研究
- 煤炭产业的研究及分析
- 岩相分析和地质成熟研究
- 确定祖母绿天然或合成
- 钻石及其夹杂物颜色的测量
- 放射物质的散射光谱
- 微涂料在涂料中的涂层效果
生物和医学
- 荧光标记物质
- 生物组织的色彩改变
- 发色物质和溶液的组成
- 分析食品，药品和化妆品中的色素
- 药膏或者油性脂类的鉴定
- 内在蛋白质/ DNA荧光
- 不使用标记物或抗体进行自发荧光定量。
高分辨率光谱学
技术要求：测量微区的高精度对准；极小的光圈开口；光分布低于1μm的光谱分析显微镜光谱法用于油漆和涂料的质量控制，因为颜料或相邻颜色表面区域的最小不均匀性可以区分。右图示例显示的总放大倍数为2500 x，超过了阿贝法则的光学显微镜的典型光学分辨率。 然而，各种颜色可以通过光谱分辨和分配。 甚至可以在自动化过程中使用点聚焦成像来分析这些颜色梯度和变化。
准确测量记录该微区域的光谱特征
间接评估
半透明材料上的层厚度
用干涉图分析计算薄层厚度。与产生具有关于其波长轮廓的直接信息的光谱的颜色不同，半透明材料在光从其顶部和底部边界反射时产生彩色干涉图案。 干涉图案揭示了诸如峰值最大值，在光点和间隔中的参数，从中可以精确地计算半透明层的厚度在纳米范围内。该方法是绝对非破坏性的，特别适用于有光泽的金属表面，在其上施加半透明涂层用于硬化或腐蚀保护。如果这些材料在其衍射特性上显示出足够的光学差异，则该显微镜光谱法也可以应用于玻璃和合成物表面。这种方法还能应用于检查玻璃上的隔热涂层；等离子体聚合物涂层的均匀性评价；TFT显示器生产过程质控。在NIR范围内记录的半透明类金刚石碳（DLC）层的干涉图案
使用数学算法（由W.Theiss Hard- and Software开发）计算层厚度
纳米粒子的大小和空间分布（根据Mie理论）
从UV-VIS光谱测定纳米粒子的大小和浓度。
使用Mie的理论，纳米粒子的大小及其空间分布可以从显微镜光谱得到，尽管单个纳米粒子低于光学显微镜的光学分辨率。金属纳米颗粒由于它们与可见光的相互作用和独特的光学电子特性而引起了极大的关注。例如，具有不同尺寸的金纳米颗粒具有特定吸收光谱。当单分散金纳米颗粒的直径为~30nm时，它们显示出蓝绿色光吸收，即红光反射，产生丰富的“红宝石色”颜色。增加颗粒直径会将吸收转移到更长的波长范围内。反射蓝光，产生淡蓝色或紫色的溶液。 随着粒径继续增加，吸收波长移动到光谱的IR部分，并且反射大部分可见波长，使纳米颗粒具有透明或半透明的颜色。样品可以在显微镜下直接表征而不需要太多复杂处理，并且与电子显微镜相比不需要任何额外的制备。
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