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用于高级材料研究的显微镜系统
将易操作性引入显微工作流程 - Axio Imager 2 确保在质量检验和流程控制中提供精准且可重复的结果。
Axio Imager 2 拥有出色的光学镜头和均匀照明的特性。观察方式和光路管理器能够确保预设条件和可重复的结果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自动检测和选择物镜以及观察方式模块。
从四种不同的主机架中选择您需要的系统，并借助专业解决方案扩展应用：Particle Analyzer、关联显微系统或 LSM 700。
将易操作性引入显微工作流程 - Axio Imager 2 确保在质量检验和流程控制中提供精准且可重复的结果。
Axio Imager 2 拥有出色的光学镜头和均匀照明的特性。观察方式和光路管理器能够确保预设条件和可重复的结果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自动检测和选择物镜以及观察方式模块。
从四种不同的主机架中选择您需要的系统，并借助专业解决方案扩展应用：Particle Analyzer、关联显微系统或 LSM 700。
● 具有超高对比度和分辨率的出色光学系统；
● 模块化主机设计，利用一系列电动和编码组件增强灵活度；
● 稳定的主机和无振动的工作环境能够确保观测结果的可重复性；
● 使用激光共聚焦扫描显微镜 LSM 700 对 Axio Imager 2 进行升级；
● 在关联显微系统的工作和颗粒度分析中使用 Axio Imager 2；
● 在质量检验和流程控制中，自动化功能可确保重复检测结果的精准。
观察方式选择
研究和检测不同材料。分析金属结构、复合材料、玻璃、木材和陶瓷。检查聚合物和液晶。
多种观察方式可供选择，以获得更多丰富的信息。使用反射光，在明场、暗场、微分干涉（DIC）、圆微分干涉（C-DIC）、偏光或荧光下观察样品。使用透射光，在明场、暗场、微分干涉（DIC）、偏光或圆偏光下检测样品。
观察方式管理器能确保 Axio Imager 2 的照明设置可复制。
● 模块化主机设计，利用一系列电动和编码组件增强灵活度；
● 稳定的主机和无振动的工作环境能够确保观测结果的可重复性；
● 使用激光共聚焦扫描显微镜 LSM 700 对 Axio Imager 2 进行升级；
● 在关联显微系统的工作和颗粒度分析中使用 Axio Imager 2；
● 在质量检验和流程控制中，自动化功能可确保重复检测结果的精准。
观察方式选择
研究和检测不同材料。分析金属结构、复合材料、玻璃、木材和陶瓷。检查聚合物和液晶。
多种观察方式可供选择，以获得更多丰富的信息。使用反射光，在明场、暗场、微分干涉（DIC）、圆微分干涉（C-DIC）、偏光或荧光下观察样品。使用透射光，在明场、暗场、微分干涉（DIC）、偏光或圆偏光下检测样品。
观察方式管理器能确保 Axio Imager 2 的照明设置可复制。
● 反射光：明场、暗场、微分干涉（DIC）、圆微分干涉（C-DIC）、偏光或荧光
● 透射光：明场、暗场、微分干涉（DIC）、偏光或圆偏光
● 透射光：明场、暗场、微分干涉（DIC）、偏光或圆偏光
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