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商品描述
蔡司的 SIGMA 系列场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）是一款高性能的高端分析型显微镜。SIGMA 系列采用配有镜筒内置二次电子探测器的 GEMINI 镜筒，对样品形貌的清晰成像具有极高的分辨率、对比度和亮度。SIGMA 系列可在高真空和可变压力模式下对导电与非导电样品进行高清晰成像。
● Sigma 300 将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件,带来出色的操作体验和实验数据。
● 多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。
● Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。
与蔡司电动载物台光镜联用：
与显微拉曼光谱仪联用：
● Sigma 300 将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件,带来出色的操作体验和实验数据。
● 多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。
● Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。
与蔡司电动载物台光镜联用：
与显微拉曼光谱仪联用：
用于清晰成像的灵活探测：
● 利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。
● 利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。
● 利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。
高级分析型显微镜：
● 将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 一流的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。
● 在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。
● 获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。
自动化加速工作流程：
● 首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
● 接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的最后一步，将结果可视化。
● 4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。
光学元件：
● Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。
● Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。
● Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的最大化影响，并将场对样品的影响降至更低。
● 利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。
● 利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。
● 利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。
● 将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 一流的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。
● 在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。
● 获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。
● 首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
● 接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的最后一步，将结果可视化。
● 4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。
● Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。
● Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。
● Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的最大化影响，并将场对样品的影响降至更低。
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